介紹安規(guī)電容有個最典型的失效機理是低壓失效
【安規(guī)電容】從安規(guī)的角度來講，都喜歡把余量留得大一點，這樣即使設(shè)計上有點缺陷，也不會器件故障，竊以為好!恰恰相反，殊不知，物極必反，哲學規(guī)律在此得到充分體現(xiàn)。
低壓失效的典型癥狀：1實際應(yīng)用電壓遠低于電容的額定耐壓值，一般在額定值的10%以下;2濕熱實驗或潮濕預(yù)處理后電容會失效;3從濕熱實驗和潮濕預(yù)處理后，進行高熱實驗或電路板烘烤，電容會恢復(fù)正常;4或者將失效電容從電路板上拆下，兩端加較高點壓，額定值的60%-75%左右，電容的性能會恢復(fù)正常。
如果您用到的電容遇到了類似現(xiàn)象，基本上可以初步確診為低壓失效的可能了。那原因何在?
電容的兩個極片中間有介質(zhì)，然后被殼體將電容極片、介質(zhì)進行封裝，事實上，封裝的殼體不會100%的致密，就給潮氣滲入提供了可能。舉例，耐壓在50V的安規(guī)電容，潮氣滲入了，在電容兩端加5V電壓的時候，附著在介質(zhì)上的潮氣就成了一個漏電流通道，但因為電壓低，這個漏電流并不很大，通路阻抗上產(chǎn)生的熱量也并不大，不足以將水汽加熱蒸發(fā)掉，但破壞電容的儲能特性是足夠了。于是，電容失效了。
后面，高溫實驗就好理解了，高溫下水汽蒸發(fā)，漏電流通道不復(fù)存在，電容恢復(fù)正常;如果加高壓，導(dǎo)通阻抗仍維持不變，隨著電壓的升高，漏電流勢必增大，增大的漏電流在導(dǎo)通阻抗上就會產(chǎn)生較大的熱量I2R,這個熱量也會導(dǎo)致潮氣蒸發(fā)，結(jié)果也是電容漏電流逐漸變小，直至恢復(fù)儲能功能。
因此安規(guī)電容選型的耐壓指標絕對不能余量留得太大，這是選型時容易出現(xiàn)問題的一個關(guān)鍵點。至于其他指標，比較常規(guī)，就不羅嗦了。
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編輯：admin 最后修改時間：2018-01-05
