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發(fā)生貼片電阻失效機理是怎么形成的

作者:admin 來源:不詳 發(fā)布時間:2017-12-13  瀏覽:9

貼片電阻在生產(chǎn)過程中,經(jīng)常也會碰到貼片電阻失效機理的產(chǎn)生。你知道是什么原因引起的這一現(xiàn)象嗎?下面穎特新網(wǎng)為您介紹貼片電阻失效機理發(fā)生的幾項原因。

貼片電阻

  1、機械損傷:


  貼片電阻的可靠很大程度上取決于電阻器的機械性能。電阻體、引線帽和引出線等均應具有足夠的機械強度,基體缺陷、引線帽損壞或引線斷裂均可導致電阻器失效。


  2、氧化:


  氧化是長期起作用的因素(與吸附不同),氧化過程是由電阻體表面開始,逐步向內(nèi)部深入。除了貴金屬與合金薄膜電阻外,其他材料的電阻體均會受到空氣中氧的影響。氧化的結果是阻值增大。電阻膜層愈薄,氧化影響就更明顯。防止氧化的根本措施是密封。


  3、有機保護層的影響:


  有機保護層形成過程中,放出縮聚作用的揮發(fā)物或溶劑蒸氣。熱處理過程使部分揮發(fā)物擴散到毫歐電阻體中,引起阻值上升。此過程雖可持續(xù)1~2年,但顯著影響阻值的時間約為2~8個月,為了保證成品的阻值穩(wěn)定性,把產(chǎn)品在庫房中擱置一段時間再出廠是比較適宜的。


  4、導電材料的結構變化:


  薄膜電阻器的導電膜層一般用汽相淀積方法獲得,在一定程度上存在無定型結構。按熱力學觀點,無定型結構均有結晶化趨勢。在工作條件或環(huán)境條件下,導電膜層中的無定型結構均以一定的速度趨向結晶化,也即導電材料內(nèi)部結構趨于致密化,能常會引起電阻值的下降。結晶化速度隨溫度升高而加快。


  電阻線或電阻膜在制備過程中都會承受機械應力,使其內(nèi)部結構發(fā)生畸變,線徑愈小或膜層愈薄,應力影響愈顯著。一般可采用熱處理方法消除內(nèi)應力,殘余內(nèi)應力則可能在長時間使用過程中逐步消除,電阻器的阻值則可能因此發(fā)生變化。

編輯:admin  最后修改時間:2017-12-13

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