村田SMD陶瓷電容器MLCC斷裂分析及造成影響
片狀獨石陶瓷電容器受到機械、熱應(yīng)力時會發(fā)生斷裂,當(dāng)斷裂到內(nèi)部電極的活動區(qū)域(圖1)時,會導(dǎo)致該部分內(nèi)部電極間的漏電,并可能造成絕緣電阻的降低(短路)。
絕緣電阻降低的機械故障主要為"斷裂處在高電場下的放電"。
例,如圖2所示,當(dāng)內(nèi)部電極間發(fā)生斷裂時,電極間的介電材料中會形成一層較薄的空氣層。
將其模型化后,當(dāng)施加電壓V時,將介電材料內(nèi)部的電場強度用E來表示,空氣層的電場強度用εE來表示。
因此,施加在電容器上的電壓大部分處于空氣層,當(dāng)其超過空氣的絕緣破壞電壓時,會產(chǎn)生放電現(xiàn)象,反復(fù)放電后會降低絕緣電阻。
圖1
圖2
編輯:admin 最后修改時間:2017-05-18