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NAND FLash基礎概念介紹

關鍵字:什么是nand flash nand flash定義 作者:admin 來源: 發(fā)布時間:2019-06-14  瀏覽:61

一、引腳介紹

引腳名稱

引腳功能

CLE         

命令鎖存功能

ALE         

地址鎖存功能

/CE    

芯片使能

/RE 

讀使能

/WE

寫使能

/WP

寫保護

R/B             

就緒/忙輸出信號

Vcc

電源

Vss

N.C

不接

IO0~IO7

傳輸數(shù)據(jù)、命令、地址

 1. 命令、地址、數(shù)據(jù)都通過8個I/O口傳輸
    2. 寫命令、地址、數(shù)據(jù)時,都需要將WE、CE信號同時拉低
    3. 數(shù)據(jù)在WE信號的上升沿被NAND Flash鎖存
    4. 命令鎖存信號CLE和地址鎖存信號ALE用來分辨、鎖存命令或地址
    5. 在CLE上升沿,命令被鎖存
    6. 在ALE上升沿,地址被鎖存

二、存儲組織形式


1. NAND芯片內(nèi)部分為die, plane,block, page

    2. chip是指芯片,一個封裝好的芯片就是一個chip
    3. die是晶圓上的小方塊,一個芯片里可能封裝若干個die,由于flash的工藝不一樣,技術不一樣,由此產(chǎn)生了die的概念,常見的有Mono Die,a Die, b die等,一個chip包含N個die
    4. plane是NAND能夠根據(jù)讀、寫、擦除等命令進行操作的最小單位一個plane就是一個存儲矩陣,包含若干個Block
    5.  Block是NANDFlash的最小擦除單位,一個Block包含了若干個Page
    6.  Page是NANDFlash的最小讀寫單位,一個Page包含若干個Byte

OOB/Spare Area


          每一個頁,對應還有一塊區(qū)域,叫做空閑區(qū)域(SpareArea)。在Linux系統(tǒng)中,一般叫做OOB(Out of Band)。


         數(shù)據(jù)在讀寫的時候相對容易錯誤,所以為了保證數(shù)據(jù)的正確性,必須要有對應的檢測和糾正機制,此機制叫做ECC/EDC,所以設計了多余的區(qū)域,用于存放數(shù)據(jù)的校驗值。


          OOB的讀寫是隨著隨著頁的操作一起完成的。


          OOB的具體用途包括以下幾個方面:


          ► 標記所處的block是否為壞塊


          ► 存儲ECC數(shù)據(jù)


          ► 存儲一些和文件系統(tǒng)相關的數(shù)據(jù)。如jaffs2就會用到這些空間存儲一些特定信息,而yaffs2文件系統(tǒng),會在oob中存放很多和自己文件系統(tǒng)相關的信息

一個16G的NAND的存儲結構大致如下:

一個16G的NANDFlash需要34位地址,而傳輸?shù)刂返腎O口是8位的,因此需要5個循環(huán)來傳輸?shù)刂沸畔ⅰ?br />

NAND Flash中的壞塊


           Nand Flash 中,一個塊中含有1 個或多個位是壞的,就稱為其為壞塊Bad Block。壞塊的穩(wěn)定性是無法保證


    的,也就是說,不能保證你寫入的數(shù)據(jù)是對的,或者寫入對了,讀出來也不一定對的。與此對應的正常的塊,肯定


    是寫入讀出都是正常的。


           壞塊有兩種:


          (1)出廠時就有存在的壞塊:


                   一種是出廠的時候,也就是,你買到的新的,還沒用過的Nand Flash,就可以包含了壞塊。此類出廠時就             有的壞塊,被稱作factory (masked) bad block 或initial bad/invalid block,在出廠之前,就會做對應的標記,


            標為壞塊。


           (2) 使用過程中產(chǎn)生的壞塊:


                   第二類叫做在使用過程中產(chǎn)生的,由于使用過程時間長了,在擦塊除的時候,出錯了,說明此塊壞了,也


             要在程序運行過程中,發(fā)現(xiàn),并且標記成壞塊的。具體標記的位置,和上面一樣。這類塊叫做worn-out 


             bad block。即用壞了的塊。

SLC和MLC的實現(xiàn)機制

           NANDFlash按照內(nèi)部存儲數(shù)據(jù)單元的電壓的不同層次,也就是單個內(nèi)存單元中,是存儲1位數(shù)據(jù),還是多位數(shù)        據(jù),可以分為SLC和MLC。


           ► SLC(Single Level Cell)


               單個存儲單元只存儲1位,表示1或0。


               對于Nand Flash寫入1,就是控制ExternalGate去充電,使得存儲的電荷夠多,超過閾值Vth,就表示1了。


               而對于寫入0,就是將其放電,電荷減少到小于Vth,就表示0了


           ► MLC(Multi Level Cell)


               與SLC對應的,就是單個存儲單元可以存儲多個位,比如2位、4位等。其實現(xiàn)機制就是,通過控制內(nèi)部電荷


               的多少,分成多個閾值,從而儲存為不同的數(shù)據(jù)。


               單個存儲單元可以存儲2位數(shù)據(jù)的,稱作2的2次方 = 4 LevelCell

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編輯:Simon  最后修改時間:2019-07-03

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